FIB-SEM 三束系統
儀器名稱：FIB-SEM 三束系統
品牌: 日立
型號：NX系列（NX5000,2000,9000）
產地：日本
儀器介紹：
一.儀器特點：
1.配有Cut&See 功能，可實現邊加工邊觀察；
2. 采用低加速（Ar/Xe）離子束（Triple Beam System）,實現低損失加工，去除稼離子束加工產生的污染;
3. 可通過高電流密度FIB實現高通量加工。
二.主要用途：
利用離子束加工樣品截面，用于掃描電鏡樣品觀察；或者加工薄片樣品，用于透射電鏡樣品觀察。
